实验室拥有场发射扫描电子显微镜Sigma 300一台。扫描电镜(SEM)广泛地应用于材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体晶粒取向测量。执行标准：GB/T 27788-2020、GB/T 36422-2018、GB/T 25189-2010、GB/T 16594-2008、GB/T 20307-2006 。

　　实验室拥有金相镶嵌机2台，金相磨抛机2台，金相显微镜2台，维氏硬度计2台，努氏硬度计1台。实验室可开展：金相组织分析，金属组织晶粒度，渗氮渗碳层深金相法及显微硬度法，维氏硬度检测，努氏硬度检测等试验，执行QC/T281-1999、QCn 29018-91、GB/T 25744-2010、GB/T 11354-2005、GB/T 13299-91、GB/T 13298-2015等标准。

　　(1) 蔡司场发射扫描电子显微镜

　　蔡司Sigma300场发射扫描电子显微镜（SEM）是一种利用高能聚焦电子束扫描样品表面，通过电子和物质作用所产生的信号进行成像从而获得样品信息的电子显微镜，具有高分辨率、较高的放大倍数、景深长、试样制备简单等特点；设备配备X射线能谱（EDS）、电子背散射衍射技术（EBSD）等装置，可同时进行显微组织形貌的观察及成分和晶体微观结构的分析。

　　设备参数：

　　① 电子枪：肖特基场发式

　　② 分辨率：1.0nm（15kV）

　　③ 放大倍率：10×-1,000,000×

　　④ 最大扫描速度：50ns/pixel

　　⑤ 加速电压：0.02-30kV

　　⑥ 样品仓尺寸：φ365mm×h275mm

　　⑦ 样品尺寸：最大φ250mm×h145mm

　　⑧ 移动范围：X、Y-125mm，Z-50mm

　　⑨ 能谱分析：具备

　　(1) 金相显微镜

　　GX53倒置金相显微镜广泛应用于钢铁、汽车、电子及其他制造行业。只需将样品倒扣放置在载物台上即可检测抛光金属和切片样品。样品底部无需平整处理，并且尺寸可以较厚、较大或较重。

　　设备参数：

　　① 显微镜类型：倒置式金相显微镜；

　　② 放大倍数：50×、100×、200×、500×、1000×；

　　③ 光源类型：高亮度白光LED光源，超长使用寿命，色温恒定；

　　④ 目镜视场数：22mm宽视野；带屈光度补偿、瞳距调节（55～75mm）；

　　⑤ 观察方法：明视场；

　　⑥ 物镜转盘：5孔物镜；

　　⑦ 调焦机构：精密粗/微调焦机构，带防滑机构、上限安全保护机构、张力调节机构；

　　⑧ 载物台：高精度XY平移机械载物台；行程50×50mm，移动精度0.1mm。